儀器功能簡介

韓國Park AFM NX10原子力顯微鏡，其獨家專利的延伸探針模組和預先安裝的探針，無需繁瑣複雜的雷射對準，即可快速進入量測，對使用者相當友善。Park獨家調校的機台設計配備自動下針系統，探針可在10秒內自動完成下針，並透過機台內部電子元件反覆確認高度，達到作業高度後即可開始量測材料表面形貌。機台提供一般接觸模式和非接觸模式（non-contact mode）的掃描模式，還可搭配特殊探針頭對特定材料進行特殊掃描，如導電式原子力顯微鏡（Conductive atomic force microscopy, CAFM）。原子力顯微鏡在探索二維材料方面扮演著關鍵角色，能對材料厚度和層數提供重要的初步理解，有助於後續實驗的安排與發展。

服務內容

本系統使用532nm雷射，提供高解析拉曼/螢光 (Raman/PL) 光譜分析，可針對不同樣品提供高解析大範圍2D/3D拉曼/螢光 (Raman/PL) 圖像掃描分析。